Technisches Whitepaper darüber, wie CVD-SiC- und TaC-Beschichtungen die thermische Stabilität, Kontamination, Partikel und Wiederholbarkeit in der Halbleiterepitaxie beeinflussen, mit Parametertabellen, einem Entscheidungsbaum für die Beschichtungsauswahl, Fehlermechanismen und RFQ-Kriterien.
8-Zoll-SiC befindet sich mittlerweile in der Massenproduktion, aber die Waferausbeute – nicht die Kapazität – trennt die Gewinner. In diesem Leitfaden wird erklärt, warum die TaC-Beschichtung auf Graphit-Heißzonenteilen über die Ausbeute entscheidet und wie man einen Lieferanten qualifiziert.
Bei der modernen Chipherstellung sorgt das Substrat für physikalische Unterstützung und einen Wärmeableitungspfad, während die Epitaxieschicht die elektrischen Leistungsgrenzen des Geräts bestimmt. Dieser Artikel bietet eine eingehende Analyse der grundlegenden Unterschiede zwischen einkristallinen Silizium- und Siliziumkarbidsubstraten und CVD/MBE-Epitaxieprozessen und zeigt, wie die Epitaxietechnologie die Leistung von Hochfrequenz- und Hochspannungsgeräten durch Reduzierung der Defektdichte und Einbeziehung von Dehnungstechniken verbessert. Unabhängig davon, ob Sie Prozessingenieur oder Beschaffungsentscheider sind, hilft Ihnen dieser Leitfaden dabei, schnell die am besten geeignete Waferauswahlstrategie zu ermitteln.
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