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Aluminiumnitrid (AlN)-Wafer
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Aluminiumnitrid (AlN)-Wafer

VeTek Semiconductor liefert hochwertige einkristalline Wafer und Substrate aus Aluminiumnitrid (AlN) für Halbleiterbauelemente mit extrem großer Bandlücke der nächsten Generation. Mit einer extrem großen Bandlücke von ca. 6,2 eV, hervorragender Wärmeleitfähigkeit, außergewöhnlicher elektrischer Isolierung und hervorragender Gitter- und Wärmeausdehnungsübereinstimmung mit GaN sind AlN-Wafer ideal für Hochleistungs-HF-Geräte, Hochspannungs-Leistungselektronik und Optoelektronik im tiefen Ultraviolett (DUV).


1. Hauptmerkmale und Vorteile

• Ultrabreite Bandlücke ≈ 6,2 eV – die höchste unter den gängigen Halbleitermaterialien

• Hohe Wärmeleitfähigkeit ≈ 320 W/m·K für effiziente Wärmeableitung

• Hervorragende elektrische Isolierung (>10¹³ Ω·cm) und hohes Durchschlagsfeld (12–15 MV/cm)

• Gute Gitter- und Wärmeausdehnungsanpassung mit GaN – ideal für GaN-auf-AlN-Heterostrukturen

• Optionen mit geringer Versetzungsdichte und strenger HR-XRD-Rocking-Curve-Kontrolle

• Al-Face CMP (Ra ≤ 0,5 nm) und N-Face MP für epi-ready-Oberflächen

• Mehrere Größen und Qualitätsstufen (P/R/D) passend zu Produktions- und Forschungsanforderungen

2. Typische Anwendungen

• Hochleistungs-HF-Geräte für Radar und 6G-Kommunikation

• Hochspannungs-Leistungselektronik für Netze, Rechenzentren und Elektrofahrzeuge

• LEDs und Laserdioden im tiefen Ultraviolett (UVC).

• GaN-auf-AlN-Epitaxiewachstum und fortschrittliche Heterostrukturbauelemente

• Halbleiterkomponenten für hohe Temperaturen, hohe Frequenzen und raue Umgebungen

3. Verfügbare Größen und Qualitätsstufen

VeTek bietet AlN-Wafer in den folgenden Standardformaten an. Sondergrößen und Spezifikationen können auf Anfrage besprochen werden.

• 10 × 10 mm quadratische Substrate

• 1-Zoll (25,4 mm) Wafer

• 2-Zoll (50,8 mm) Wafer

Qualitätsstufen: P-Klasse (Produkt), R-Klasse (Forschung), D-Klasse (experimentell), unterschieden hauptsächlich durch HR-XRD-Rocking-Kurve FWHM und Gesamtkristallqualität.

4. Wichtige technische Spezifikationen

Gemeinsame Parameter aller Größen (typische Werte; klassenabhängig, sofern angegeben):

Parameter

P-Note

R-Klasse

D-Klasse

Orientierung

(0001) ± 0,5°

Dicke

450 μm ± 25 μm

HR-XRD FWHM (002)

≤ 100 Bogensekunden

≤ 200 Bogensekunden

≤ 300 Bogensekunden

HR-XRD FWHM (102)

≤ 80 Bogensekunden

≤ 150 Bogensekunden

≤ 250 Bogensekunden

Oberflächenpolitur

Al-Gesicht CMP, N-Gesicht MP

Oberflächenrauheit Ra

Al ≤ 0,5 nm; N ≤ 1,2 μm

Kratzer / Absplitterungen (mit bloßem Auge)

Keiner

Kantenausschluss

1 mm

Verpackung

Einzelwafer-Box

Größenspezifische geometrische Toleranzen:

• 10×10 mm: Seitenlänge 10 mm ± 0,5 mm; TTV ≤ 15 μm; Bogen ≤ 15 μm

• 1 Zoll: Durchmesser 25,4 mm ± 0,5 mm; Nutzfläche ≥ 90 %; TTV ≤ 20 μm; Bogen ≤ 20 μm; Primärfläche (10-10) ± 5°, Länge 8 mm ± 1 mm

• 2 Zoll: Durchmesser 50,8 mm ± 0,5 mm; Nutzfläche ≥ 90 %; TTV ≤ 30 μm; Bogen ≤ 30 μm; Primärflachlänge 16 mm ± 2 mm

5. Warum sollten Sie sich für AlN-Wafer von VeTek entscheiden?

Als spezialisierter Lieferant von fortschrittlichen Halbleitermaterialien und -komponenten bietet VeTek Semiconductor:

• Hochwertige AlN-Einkristallwafer mit kontrollierter Kristallqualität und Epi-Ready-Oberflächen

• Mehrere Größen- und Qualitätsoptionen zur Unterstützung sowohl der Geräteproduktion als auch von Forschungsprogrammen

• Ergänzende Wafer- und Substratlösungen im Rahmen des VeTek-Halbleitermaterialportfolios

• Technische Unterstützung bei der Materialauswahl und Prozessanpassung

Unsere AlN-Wafer unterstützen Kunden dabei, die Entwicklung leistungsstarker HF-, Hochspannungs- und Tief-UV-optoelektronischer Geräte zu beschleunigen, die die einzigartige Kombination aus ultrabreiter Bandlücke, hoher Wärmeleitfähigkeit und GaN-Kompatibilität von Aluminiumnitrid erfordern.


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