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Poröse Siliziumcarbid-Keramikplatten (SIC): Hochleistungsmaterialien bei der Herstellung von Halbleiter

Ⅰ. Was ist eine poröse Sic -Keramikplatte?


Poröse Siliziumkarbid-Keramikplatte ist ein poröses Struktur Keramikmaterial aus Siliziumkarbid (sic) durch spezielle Prozesse (wie Schaum, 3D-Druck oder Hinzufügen von Porenbildungsmitteln). Zu den Kernmerkmalen gehören:


● Steuerbare Porosität: 30% -70% einstellbar, um die Anforderungen verschiedener Anwendungsszenarien zu erfüllen.

● Einheitliche Porengrößenverteilung: Gewährleistung der Gas-/Flüssigkeitsübertragungsstabilität.

● Leichtes Design: Reduzieren Sie den Energieverbrauch des Geräts und verbessern Sie den Betriebseffizienz.


Ⅱ.


1. Hochtemperaturwiderstand und thermisches Management (hauptsächlich, um das Problem des thermischen Versagens des Geräts zu lösen)


● Extreme Temperaturwiderstand: Die kontinuierliche Arbeitstemperatur erreicht 1600 ° C (30% höher als Aluminiumoxidkeramik).

● Thermische Leitfähigkeit mit hoher Effizienz: Der thermische Leitfähigkeitskoeffizient beträgt 120 W/(m · k), eine schnelle Wärmeabteilung schützt empfindliche Komponenten.

● Ultra-niedrige thermische Expansion: Der thermische Expansionskoeffizient beträgt nur 4,0 × 10 ° C/° C, was für den Betrieb unter extrem hoher Temperatur geeignet ist, wodurch die Deformation von hoher Temperatur effektiv vermieden wird.


2. Chemische Stabilität (Reduzierung der Wartungskosten in korrosiven Umgebungen)


● Resistent gegen starke Säuren und Alkalis: Kann korrosive Medien wie HF und H₂so₄ standhalten

● Resistent gegen Plasmaerosion: Das Leben in trockenen Ätzengeräten wird mehr als dreimal erhöht


3.. Mechanische Stärke (Lebensdauer des Geräts)


● Hohe Härte: MOHS -Härte ist bis zu 9,2, und die Verschleißfestigkeit ist besser als Edelstahl

● Biegekraft: 300-400 MPa, Unterstützung von Wafern ohne Verzerrung


4. Funktionalisierung poröser Strukturen (Verbesserung der Prozessausbeute)


● Einheitliche Gasverteilung: CVD -Prozessfilm Gleichmäßigkeit wird auf 98%erhöht.

● Präzise Adsorptionskontrolle: Die Positionierungsgenauigkeit des elektrostatischen Chucks (ESC) beträgt ± 0,01 mm.


5. Sauberkeitsgarantie (in Übereinstimmung mit Standards für Halbleitergrade)


● Null Metallkontamination: Reinheit> 99,99%, vermeiden Sie Waferverschmutzung

● Selbstverpackte Eigenschaften: Die mikroporöse Struktur reduziert die Partikelablagerung


III. Vier wichtige Anwendungen poröser SIC -Platten in der Herstellung von Halbleitern


Szenario 1: High-Temperatur-Prozessausrüstung (Diffusionsofen/Glühofen)


● Benutzerschmerzpunkt: Traditionelle Materialien sind leicht zu deformieren, was zu Waffenschrott führt

● Lösung: Als Trägerplatte arbeitet es stabil unter 1200 ° C Umgebung

● Datenvergleich: Die thermische Verformung ist 80% niedriger als die von Aluminiumoxid


Szenario 2: Chemische Dampfabscheidung (CVD)


● Benutzerschmerzpunkt: Ungleichmäßige Gasverteilung beeinflusst die Filmqualität

● Lösung: Die poröse Struktur lässt die Gleichmäßigkeit der Reaktionsgasdiffusion 95% erreichen

● Branchenfall: Angewendet auf 3D NAND Flash Memory Dünnfilmablagerung


Szenario 3: trockene Ätzgeräte


● Benutzerschmerzpunkt: Plasma -Erosion SHOLebenslebensdauer

● Lösung: Die Anti-Plasma-Leistung erweitert den Wartungszyklus auf 12 Monate

● Kosteneffizienz: Ausfallzeiten der Ausrüstung werden um 40% reduziert


Szenario 4: Waferreinigungssystem


● Benutzerschmerzpunkt: Häufiger Austausch von Teilen durch Säure- und Alkali -Korrosion

● Lösung: HF -Säureresistenz lässt die Lebensdauer von mehr als 5 Jahren erreichen

● Überprüfungsdaten: Festigkeitsrate> 90% nach 1000 Reinigungszyklen



Iv. 3 Hauptauswahlvorteile im Vergleich zu herkömmlichen Materialien


Vergleichsdimensionen
Poröse Sic -Keramikplatte
Aluminiumoxidkeramik
Graphitmaterial
Temperaturgrenze
1600 ° C (kein Oxidationsrisiko)
1500 ° C sind leicht zu weich zu werden
3000 ° C, erfordert jedoch einen inerten Gasschutz
Wartungskosten
Die jährlichen Wartungskosten reduzierten sich um 35%
Vierteljährlicher Ersatz erforderlich
Häufige Reinigung von Staub erzeugt
Prozesskompatibilität
Unterstützt erweiterte Prozesse unter 7 nm
Nur für reife Prozesse anwendbar
Bewerbungen durch Verschmutzungsrisiko begrenzt


V. FAQ für Branchenbenutzer


Q1: Ist eine poröse SIC -Keramikplatte für die Produktion von GALIUM -Nitrid (GaN) geeignet?


Antwort: Ja, seine hohe Temperaturbeständigkeit und die hohe thermische Leitfähigkeit sind besonders für den GaN -epitaxialen Wachstumsprozess geeignet und wurden auf die Fertigung von 5 g Basisstation angewendet.


F2: Wie wähle ich den Porositätsparameter aus?


Antwort: Wählen Sie gemäß dem Anwendungsszenario:

● Verteilungsgastion: 40% -50% Offene Porosität werden empfohlen

● Vakuumadsorption: 60% -70% hohe Porosität wird empfohlen


F3: Was ist der Unterschied zu anderen Silizium -Carbid -Keramik?


Antwort: Im Vergleich zu DichtSic ceramicsporöse Strukturen haben die folgenden Vorteile:

● 50% Gewichtsreduzierung

● 20 -mal Anstieg der spezifischen Oberfläche

● 30% Verringerung der thermischen Belastung

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